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高分辨率納米粒度和Zeta電位分析儀是基于動(dòng)態(tài)光散射(DLS)和激光多普勒電泳(LDE)技術(shù),提供高分辨率,和快速的粒度和zeta電位測試和遠程原位測試。
MAGELLAN痕量納米顆粒分析儀是一種基于激光誘導擊穿檢測(LIBD)技術(shù)的測量水中納米粒子痕量(粒徑分布和濃度)的*儀器。用于水中納米顆粒的痕量表征,靈敏度高于傳統的動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)一萬(wàn)倍,顆粒濃度測定低至 ng/L 的范圍,可對 10nm 到 1000nm 之間的顆粒進(jìn)行計數,為水處理在線(xiàn)監測、超純水監測、濾膜效率及完整性監測以及過(guò)濾工藝.
法國Cordouan 生產(chǎn)的Vasco kin在線(xiàn)納米粒度儀用于復雜介質(zhì)中納米顆粒的粒度表征,其性能遠優(yōu)于目前市面上流行的動(dòng)態(tài)光散射法納米粒度儀。經(jīng)過(guò)短短四年的發(fā)展,Cordouan Technologies 構建的表征納米和納米材料的創(chuàng )新解決方案已經(jīng)成為 N3 世界(納米顆粒、納米材料、納米技術(shù))的參考標準,用于粒度測定
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